Pakiet analizy danych mikrolitografii zdolny do dopasowania zestawów danych typu Bossung, znanych również jako macierze ekspozycji ostrości. Słowa kluczowe: Litografia, Fotolithografia, Fotorezysta, Okno procesu, Wymiar krytyczny, CD, Bossung, FEM
historia wersji
- Wersja N/A opublikowany na 2011-08-11
Kilka poprawek i aktualizacji - Wersja N/A opublikowany na 2011-08-11
Szczegóły programu
- Kategorii: Rozwoju > Innych
- Wydawca: freedata.sf.net
- Licencji: Wolna
- Cena: N/A
- Wersja: Array
- Platformy: windows